您的實驗室一定需要它------新型掃描電鏡樣品制備系統(tǒng)
您是否為了一個ebsd樣品而泡在實驗室一整天，但終還是達(dá)不到ebsd樣品的標(biāo)定率而苦惱？
您是否為了一個截面樣品制備而小心翼翼，但終還是無法看到截面樣品信息而苦惱？
您是否還為了一個孔隙結(jié)構(gòu)樣品被機(jī)械拋光操作時填滿孔隙結(jié)構(gòu)，而無法判定樣品的真實信息而苦惱？
如果是，那您一定需要它：
它就是gatan ilion ii 697氬離子束拋光系統(tǒng)，該款設(shè)備是在gatan公司經(jīng)典的691離子減薄儀技術(shù)上發(fā)展而來。它的問世改變了此前人們用手動或機(jī)械研磨的方法對樣品進(jìn)行研磨拋光的局限性。利用氬離子精密拋光裝置，可以獲得平滑的截面和平面，而不會對樣品造成機(jī)械損害，是掃描電鏡樣品制備的新型手段，目前已經(jīng)廣泛應(yīng)用于各大高?？蒲性核?。
可利用 ilionii 697 進(jìn)行拋光加工的材料種類十分廣泛，包括由多元素組成的試樣，以及具有不同的機(jī)械硬度、尺寸和物理特性的合金、半導(dǎo)體材料、聚合物和礦物等。
具體應(yīng)用領(lǐng)域有：
? ebsd 樣品
? 光伏、半導(dǎo)體
? 金屬(氧化物, 合金)
? 陶瓷
? 地質(zhì)樣品，油頁巖
? 高分子，聚合物
? cl
典型應(yīng)用案例：
一、ebsd樣品制備
氬離子束拋光是利用高電流密度的氬離子束對樣品進(jìn)行減薄，氬離子相對鎵離子來說非常輕，產(chǎn)生的應(yīng)力層、非晶層非常薄，可以避免由于制樣方法對實驗數(shù)據(jù)產(chǎn)生的誤導(dǎo)，同時由于晶格畸變較小，可以提高 ebsd的標(biāo)定率，降低標(biāo)定參數(shù)，從而有效提高標(biāo)定效率，節(jié)約時間。以下三幅圖片試樣采用ilion ii在 1 kv的條件下進(jìn)行拋光后，在 20 kv條件下得到的碳化鎢 /鈷樣品的 ebsd結(jié)果，其中的鈷沒有發(fā)生 fcc到 hcp的相變。(照片由英國曼切斯特大學(xué) a gholinia博士提供)
二、頁巖樣品制備
sem圖像，視野：1mm x600 microns， 可見小至4nm的孔隙
三、新能源鋰離子電池
有機(jī)薄膜
陽極 陰極 粉末樣品截面
四、半導(dǎo)體行業(yè)-pcb板
五、si基太陽能電池
歐波同公司demo實驗中心目前配置了該款氬離子拋光設(shè)備，歡迎前來做樣體驗！欲了解更多詳情請登錄.cn/或