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        通信產(chǎn)品EMC測(cè)試系統(tǒng)解決方案

        發(fā)布時(shí)間:2024-08-13
        通信產(chǎn)品emc測(cè)試系統(tǒng)解決方案
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        emc--電磁兼容測(cè)試介紹
        emc全稱(chēng)electro-magnetic compatibility。指的是設(shè)備或系統(tǒng)在其電磁環(huán)境中能正常工作且不對(duì)該環(huán)境中任何事物構(gòu)成不能承受的電磁騷擾的能力。emc是評(píng)價(jià)產(chǎn)品質(zhì)量的一個(gè)重要指標(biāo)。
        emc測(cè)試包括:
        (1)emi(electro-magnetic interference)---電磁騷擾測(cè)試
        此測(cè)試之目的為:檢測(cè)電器產(chǎn)品所產(chǎn)生的電磁輻射對(duì)人體、公共電網(wǎng)以及其他正常工作之電器產(chǎn)品的影響。
        (2)ems(electro-magnetic susceptibility)---電磁抗擾度測(cè)試
        此測(cè)試之目的為:檢測(cè)電器產(chǎn)品能否在電磁環(huán)境中穩(wěn)定工作,不受影響。
        其中emi包括:
        (1) 輻射騷擾測(cè)試(re)---測(cè)試標(biāo)準(zhǔn):en55022
        (2) 傳導(dǎo)騷擾測(cè)試(ce)---測(cè)試標(biāo)準(zhǔn):en55022
        (3) 諧波電流測(cè)試(harmonic)---測(cè)試標(biāo)準(zhǔn):en 61000-3-2
        (4) 電壓變化與閃爍測(cè)試(flicker)---測(cè)試標(biāo)準(zhǔn):en 61000-3-3
        ems包括:
        (1) 靜電放電抗擾度測(cè)試(esd)---測(cè)試標(biāo)準(zhǔn):en6100-4-2
        (2) 射頻電磁場(chǎng)輻射抗擾度(rs)---測(cè)試標(biāo)準(zhǔn):en61000-4-3
        (3) 射頻場(chǎng)感應(yīng)的傳導(dǎo)騷擾抗擾度(cs)---測(cè)試標(biāo)準(zhǔn):en61000-4-6
        (4) 電快速瞬變脈沖群抗擾度測(cè)試(eft)---測(cè)試標(biāo)準(zhǔn):en61000-4-4
        (5) 浪涌(沖擊)抗擾度(surge)---測(cè)試標(biāo)準(zhǔn):en61000-4-5
        (6) 電壓暫降,短時(shí)中斷和電壓變化抗擾度測(cè)試(dip)---測(cè)試標(biāo)準(zhǔn):en61000-4-11
        (7) 工頻磁場(chǎng)抗擾度測(cè)試(pfmf)---測(cè)試標(biāo)準(zhǔn):en61000-4-8
        手機(jī)進(jìn)網(wǎng)預(yù)測(cè)試中涉及到的emc測(cè)試項(xiàng)目
        上面就一般電器產(chǎn)品的emc測(cè)試項(xiàng)目做了一些說(shuō)明,本節(jié)主要介紹手機(jī)在進(jìn)網(wǎng)測(cè)試中所需進(jìn)行的emc測(cè)試。
        emi方面:
        (1) 輻射連續(xù)騷擾(re)---測(cè)試標(biāo)準(zhǔn):gb9254
        (2) 傳導(dǎo)連續(xù)騷擾(ce)---測(cè)試標(biāo)準(zhǔn):gb9254
        (3) 輻射雜散騷擾(se(r))---測(cè)試標(biāo)準(zhǔn):yd1032
        (4) 傳導(dǎo)雜散騷擾(se(c))---測(cè)試標(biāo)準(zhǔn):yd1032
        ems方面:
        (1) 電快速瞬變脈沖群抗擾度測(cè)試(eft):gb/t 17626.4-1998
        (2) 靜電放電抗擾度(esd):gb/t 17626.2-1998
        (3) 浪涌(沖擊)抗擾度(surge):gb/t 17626.5-1998
        (4) 射頻場(chǎng)感應(yīng)的傳導(dǎo)騷擾抗擾度(cs):gb/t 17626.6-1998
        (5) 射頻電磁場(chǎng)輻射抗擾度(rs):gb/t 17626.3-1998
        (6) 電壓暫降,短時(shí)中斷和電壓變化抗擾度(dip):gb/t 17626.11-1998
        輻射與傳導(dǎo)的區(qū)別:
        輻射:
        物體都以電磁波的形式時(shí)刻不停地向外傳送能量,這種傳送能量的方式稱(chēng)為輻射。物體通過(guò)輻射所放出的能量,稱(chēng)為輻射能,簡(jiǎn)稱(chēng)輻射。
        傳導(dǎo):
        通過(guò)某種實(shí)物連接而產(chǎn)生的能量傳遞。
        連續(xù)騷擾:
        對(duì)一個(gè)特定設(shè)備的效應(yīng)不能分解為一串能清晰可辨的效應(yīng)的電磁騷擾。
        輻射連續(xù)騷擾也可稱(chēng)為輻射騷擾或者輻射干擾即re,其測(cè)試目的為判斷手機(jī)自身所輻射出電磁能量的強(qiáng)度。輻射騷擾超標(biāo)的產(chǎn)品可能使設(shè)備或系統(tǒng)性能劣化或者對(duì)生物和非生物起不良反映。
        傳導(dǎo)連續(xù)騷擾也可稱(chēng)為傳導(dǎo)騷擾或者傳導(dǎo)干擾即ce。一般來(lái)說(shuō)此項(xiàng)測(cè)試目的在于檢測(cè)連接到城市公共供電網(wǎng)絡(luò)的手機(jī)對(duì)于公共電網(wǎng)的影響。
        其中雜散(spurious emissions)項(xiàng)目是針對(duì)手機(jī)而特別提出的。所謂雜散即必要帶寬以外頻率發(fā)射(并且不包括由調(diào)制過(guò)程產(chǎn)生的必要帶寬以外頻率的發(fā)射)。
        雜散騷擾:
        除載頻和與正常調(diào)制相關(guān)的頻帶以外離散頻率上的騷擾??梢苑譃閭鲗?dǎo)和輻射兩種(此處傳導(dǎo)與輻射的測(cè)試目的與re和ce類(lèi)似)。因此在emi中有兩條有關(guān)手機(jī)雜散的測(cè)試項(xiàng)。
        se(r)測(cè)試:
        電臺(tái)裝有天線(xiàn)在輻射試驗(yàn)場(chǎng)測(cè)得的雜散窄帶射頻分量。它包括諧波和非諧波分量及寄生分量。此項(xiàng)測(cè)試即測(cè)試其雜散窄帶射頻分量大小。
        se(c)測(cè)試:
        在有匹配負(fù)載的天線(xiàn)端測(cè)得的雜散射頻分量。其特征通常是在離散頻率上或窄頻帶內(nèi)有一顯著的分量,它包括諧波和非諧波分量以及寄生分量,不包括為傳輸信息的必要頻帶極近處的分量。此項(xiàng)測(cè)試即檢測(cè)手機(jī)在被測(cè)頻段內(nèi)產(chǎn)生的諧波和非諧波分量以及寄生分量。
        eft測(cè)試:
        這是一種耦合到電子設(shè)備的電源線(xiàn)、控制線(xiàn)和信號(hào)線(xiàn)上的,且由許多快速瞬變脈沖組成的脈沖群試驗(yàn)。試驗(yàn)的要素是瞬變的上升時(shí)間、重復(fù)率和能量。
        esd測(cè)試:
        模擬手機(jī)在遭受到靜電放電時(shí)性能是否會(huì)下降或失效,放電分為直接放電和間接放電兩類(lèi)。對(duì)導(dǎo)電表面采用直接接觸放電的方式;對(duì)絕緣表面采用空氣放電方式。接觸放電為形式,只有在不能用接觸放電的地方(如表面涂有絕緣層,手機(jī)鍵盤(pán)縫隙等情況)才改用空氣放電。
        surge測(cè)試:
        測(cè)試手機(jī)電源線(xiàn)和內(nèi)部連接線(xiàn)在經(jīng)受來(lái)自開(kāi)關(guān)切換及自然界雷擊后是否會(huì)影響到其各項(xiàng)功能的一種測(cè)試。
        cs測(cè)試:
        在通常情況下,被干擾設(shè)備的尺寸要比干擾頻率的波長(zhǎng)短得多,而設(shè)備的引線(xiàn)(包括電源線(xiàn)、通信線(xiàn)和接口電纜等)的長(zhǎng)度則可能與干擾頻率的幾個(gè)波長(zhǎng)相當(dāng),這樣,這些引線(xiàn)就可以通過(guò)傳導(dǎo)方式(zui終以射頻電壓和電流所形成的近場(chǎng)電磁騷擾在設(shè)備內(nèi)部)對(duì)設(shè)備產(chǎn)生干擾。此項(xiàng)測(cè)試目的即評(píng)價(jià)電氣和電子設(shè)備對(duì)由射頻場(chǎng)感應(yīng)所引起的傳導(dǎo)騷擾的抗擾度。
        rs測(cè)試:
        射頻輻射電磁場(chǎng)對(duì)設(shè)備的干擾往往是由設(shè)備操作、維修和安全檢查人員在使用時(shí)所產(chǎn)生的,其他如無(wú)線(xiàn)電臺(tái)、電視發(fā)射臺(tái)、移動(dòng)無(wú)線(xiàn)電發(fā)射機(jī)和各種工業(yè)電磁輻射源(以上屬有意發(fā)射),以及電焊機(jī)、晶閘管整流器、熒光燈工作時(shí)產(chǎn)生的寄生輻射(以上屬無(wú)意發(fā)射),也都會(huì)產(chǎn)生射頻輻射干擾。此項(xiàng)測(cè)試目的是建立一個(gè)共同的標(biāo)準(zhǔn)來(lái)評(píng)價(jià)電氣和電子設(shè)備的抗射頻輻射電磁場(chǎng)干擾的能力。
        dip測(cè)試:
        電壓瞬時(shí)跌落、短時(shí)中斷是由電網(wǎng)、變電設(shè)施的故障或負(fù)荷突然出現(xiàn)大的變化所引起的。在某些情況下會(huì)出現(xiàn)兩次或更多次連續(xù)的跌落或中斷。電壓變化是由連接到電網(wǎng)的負(fù)荷連續(xù)變化引起的。此項(xiàng)測(cè)試模擬電壓的突變效應(yīng),以便建立一種評(píng)價(jià)電氣和電子設(shè)備在經(jīng)受這種變化時(shí)的抗擾性通用準(zhǔn)則。
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