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        高精度涂層測厚儀MiniTest 720

        發(fā)布時間:2024-09-10
        高精度涂層測厚儀minitest 720
        產(chǎn)品介紹
        高精度涂層測厚儀minitest 720采用sidsp技術提升了測量的性,高精度可達±(1μm+0.75%讀值),minitest 720涂層測厚儀大測量范圍為15mm,可自由選擇f/n/fn探頭。
        特點
        sidsp使測量不受干擾,測值更加
        可更換探頭使用更加靈活(epk 740探頭可由內(nèi)置換為外置)
        fn探頭自動識別基體,使測量更迅速,避免操作錯誤
        溫度補償功能避免溫度變化引起的錯誤
        生產(chǎn)過程中50點校準使儀器獲得高度的特征曲線
        大存儲量,能存儲10或100組多達100,000個讀數(shù)
        讀數(shù)和統(tǒng)計值能單獨調(diào)出
        超大,背光顯示屏,顯示內(nèi)容可180度旋轉
        菜單指引操作,25種語言可選
        帶irda接口,紅外線傳輸數(shù)據(jù)到打印機和pc
        可下載更新軟件
        技術參數(shù)
        型號
        epk 720
        探頭類型
        內(nèi)置
        數(shù)據(jù)記憶組數(shù)
        10
        存儲數(shù)據(jù)量
        多10,000個
        統(tǒng)計值
        讀值個數(shù),小值,大值,平均值,標準方差,變異系數(shù),組統(tǒng)計值(標準設置/自由配置)
        校準程序符合標準和規(guī)范
        iso,sspc,瑞典標準,澳大利亞標準
        校準模式
        出廠設置校準,零點校準,2點校準,3點校準,使用者可調(diào)節(jié)補償值
        限值監(jiān)控
        聲、光報警提示超過限
        測量單位
        um,mm,cm;mils,inch,thou
        操作溫度
        -10℃-60℃
        存放溫度
        -20℃-70℃
        數(shù)據(jù)接口
        irda 1.0(紅外接口)
        電源
        2節(jié)aa電池
        標準
        din en iso 1461,2064,2178,2360,2808,3882,19840
        astm b244,b499,d7091,e376
        as 3894.3,ss 1841 60,sspc-pa 2
        體積
        157mm x 75.5mm x 49mm
        重量
        約175g
        探頭技術數(shù)據(jù)表
        探頭
        特性
        f1.5,n0.7,fn1.5
        f2
        f5,n2.5,fn5
        f15
        f
        n
        f
        f
        n
        f
        測量范圍
        0-1.5mm
        0-0.7mm
        0-2mm
        0-5mm
        0-2.5mm
        0-15mm
        使用范圍
        小工件,薄涂層,跟測量支架一起使用
        粗糙表面
        標準探頭,使用廣泛
        厚涂層
        測量原理
        磁感應
        電渦流
        磁感應
        磁感應
        電渦流
        磁感應
        信號處理
        探頭內(nèi)部32位信號處理(sidsp)

        ±(1μm+0.75%讀值)
        ±(1.5μm+0.75%讀值)
        ±(5μm+0.75%讀值)
        重復性
        ±(0.5μm+0.5%讀值)
        ±(0.8μm+0.5%讀值)
        ±(2.5μm+0.5%讀值)
        低端分辨率
        0.05μm
        0.1μm
        1μm
        小曲率半徑(凸)
        1.0mm
        1.5mm
        5mm
        小曲率半徑(凹,外置探頭)
        7.5mm
        10mm
        25mm
        小曲率半徑(凹,內(nèi)置探頭)
        30mm
        30mm
        30mm
        小測量面積
        φ5mm
        φ10mm
        φ25mm
        小基體厚度
        0.3mm
        40μm
        0.5mm
        0.5mm
        40μm
        1mm
        連續(xù)模式下測量速度
        每秒20個讀數(shù)
        單值模式下大測量速度
        每分鐘70個讀數(shù)
        標準配置:
        帶塑料手提箱,內(nèi)含:
        epk 720(內(nèi)置探頭)
        或epk 730(外置探頭)
        或epk740主機(不含探頭,有各種探頭可選)
        校準套裝含校準片和零板
        操作使用說明cd,德語、英語、法語、西班牙語
        2節(jié)aa電池
        選購件
        f1.5/n0.7/fn1.5探頭用測量支架
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