epk超聲波測(cè)厚儀minitest 420/430/440技術(shù)資料
高超聲波測(cè)厚儀
高阻抗雙晶探頭
脈沖－回波方式 量程達(dá)0.65-500mm
回波－回波方式(透過涂層測(cè)量) 量程達(dá)3-25mm
堅(jiān)固的防靜電、防火塑料外殼。
快速測(cè)量金屬、塑料、玻璃、陶瓷等材料的厚度。
適合實(shí)驗(yàn)室及工業(yè)現(xiàn)場(chǎng)使用。
適用于各種板材、管材、油罐、輸油管、鍋爐容器壁厚及其局部腐蝕、銹蝕的檢測(cè)。
適用于煉油、鋼鐵、冶金、造船、機(jī)械、化工、電力、原子能等各工業(yè)部門的產(chǎn)品檢驗(yàn)。
標(biāo)準(zhǔn)配置可選配置
儀器主機(jī) 階梯試塊，通訊電纜，通訊軟件，高溫探頭等
帶連接電纜的探頭一支
耦合劑（75ml）
2節(jié)5號(hào)電池
塑料手提箱
中英文說明書
技術(shù)參數(shù)
項(xiàng)目
參數(shù)
420
430
440
零位校準(zhǔn)
開機(jī)自動(dòng)零位校準(zhǔn)
●
●
測(cè)量參數(shù)
發(fā)射－回波模式，量程0.65-500mm
標(biāo)準(zhǔn)測(cè)量：滿足常用的檢測(cè)要求
●
●
●
zui小值測(cè)量：滿足曲面或需要選擇zui小值的測(cè)量環(huán)境
●
●
●
差分測(cè)量：顯示實(shí)際測(cè)量值與設(shè)定標(biāo)準(zhǔn)值的差值
●
●
平均測(cè)量：提供2-9點(diǎn)的測(cè)量平均值
●
●
上下限測(cè)量：極限報(bào)警
●
●
回波－回波模式，量程3-25mm
透過涂層測(cè)量基體厚度
●
快速掃查模式
適用于高溫或需要提高測(cè)量速度的測(cè)量環(huán)境，每秒10次的測(cè)量，可以同時(shí)顯示測(cè)量中的zui大值和zui小值
●
●
數(shù)據(jù)存儲(chǔ)
10組5000個(gè)數(shù)據(jù)，動(dòng)態(tài)分配
●
●
數(shù)據(jù)輸出
usb接口，通過usb接口上傳儀器中存儲(chǔ)的數(shù)據(jù)到計(jì)算機(jī)
●
●
顯示信息
測(cè)量值，聲速值，探頭型號(hào)，電池電量，當(dāng)前數(shù)據(jù)組
示值精度
小于99.99mm時(shí)為0.01mm;大于100mm時(shí)為0.1mm
單位
公制/英制
聲速范圍
1000m/s - 9999m/s,
精度
0.65mm-9.99mm±0.04mm
10.00mm-99.99mm ±(0.1%h+0.04)mm100.0mm-500.0mm±0.3%h
增益
自動(dòng)；手動(dòng)可調(diào)
聲速測(cè)量
確定未知聲速材料的聲速，預(yù)置9種常用材料聲速值
探頭識(shí)別
自動(dòng)識(shí)別探頭
關(guān)機(jī)選擇
可選擇2分鐘，5分鐘自動(dòng)關(guān)機(jī)或選擇不自動(dòng)關(guān)機(jī)
外形尺寸
130 × 73 × 24 mm(l×w×h)
重量
約190g
工作溫度
-20至50攝氏度
電池
兩節(jié)5號(hào)電池，電量顯示，電量不足報(bào)警
工作時(shí)間
不間斷測(cè)量不少于80小時(shí)
顯示屏
128×64 背光
可選探頭：
型號(hào)
晶體直徑
頻率
測(cè)量范圍
工作溫度
簡(jiǎn)介
u5.0e
8mm
5.0mhz
3-25mm(e-e)
0.8-300mm(t-e)
-12-+60℃
440標(biāo)配探頭，440*探頭，具有透過涂層測(cè)量模式。zui小測(cè)量管外徑20mm
u10.0
4mm
10.0mhz
0.65-20mm
-12-+60℃
小管徑探頭。zui小測(cè)量管外徑10mm
u7.5
6mm
7.5mhz
0.65-50mm
-12-+60℃
主要用于薄壁及小弧面的測(cè)量. zui小測(cè)量管外徑15mm
u5.0
8mm
5.0mhz
0.8-300mm
-12-+60℃
420,430標(biāo)配探頭，主要用于測(cè)量表面為平面或者較大弧度的材料。zui小測(cè)量管外徑20mm
u2.0
12mm
2.0mhz
2.0-500mm
-12-+60℃
粗晶探頭，主要用于鑄鐵等粗晶材質(zhì)的測(cè)量. zui小測(cè)量管外徑30mm
u5.0ht
13mm
5.0mhz
3.0-100mm
-12-+350℃
高溫探頭，主要用于測(cè)量溫度小于350℃的材料的測(cè)量，
注：測(cè)量時(shí)晶體與被測(cè)高溫物體的接觸時(shí)間不得大于5s. zui小測(cè)量管外徑25mm
注：另有管內(nèi)壁探頭可選，各地辦事處。