一、快速溫變試驗(yàn)箱的用途：
快速溫變試驗(yàn)箱適用于航空航天產(chǎn)品、信息電子儀器儀表、材料、電工、電子產(chǎn)品、各種電子元器件在溫度快速轉(zhuǎn)變的情況下檢驗(yàn)產(chǎn)品的各項(xiàng)性能指標(biāo)。
二、快速溫變試驗(yàn)箱的規(guī)格：
1.機(jī)器型號：ls-fx5-225z
2.溫度范圍： -40 ℃～ +150 ℃
3.溫度控制精度：±0.5℃；
*以上#2～4之性能保證，需于溫度感測穩(wěn)定30分鐘后量測！
4.溫度均勻度：±2%；
5.升溫時(shí)間：從室溫至150℃時(shí)，約40分鐘(非線性，無負(fù)載狀態(tài)下).
6.降溫時(shí)間：從室溫至-40℃時(shí)，約60分鐘(非線性，無負(fù)載狀態(tài)下).
7.內(nèi)箱尺寸：測試區(qū)：500×500×400mm(w×h×d).
*注意：擺放試品的容量不可超過測試區(qū)容量之2/3.
8.設(shè)備安裝空間：至少180×250×300cm(w×h×d).
9.電源：ac 1∮ 220 v 50 hz max 25 a
關(guān)鍵詞：快速溫變試驗(yàn)箱 試驗(yàn)箱 電子元器件